創(chuàng)新點(diǎn)
PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)是應(yīng)用在汽車零部件、航空航天、液壓潤(rùn)滑行業(yè)顆粒度檢測(cè)的專業(yè)性分析測(cè)試儀器，具有專業(yè)性強(qiáng)，分析性能優(yōu)異、標(biāo)準(zhǔn)模塊多、測(cè)量項(xiàng)目全等功能，測(cè)定結(jié)果可追溯等優(yōu)勢(shì)。
普勒新世紀(jì)實(shí)驗(yàn)按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場(chǎng)的成熟系統(tǒng)儀器。
產(chǎn)品性能
PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)直觀、形象、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)；
正偏光顯微測(cè)試可以準(zhǔn)確判別顆粒的金屬非金屬特性；
避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴(kuò)展檢測(cè)范圍；
現(xiàn)實(shí)NAS、ISO等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可；
屬于科研級(jí)別的新型的粒度測(cè)試手段。
技術(shù)參數(shù)
PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)自動(dòng)分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%測(cè)試范圍: 1-500μm系統(tǒng)放大倍數(shù)：40～l000X倍
zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：300萬像素
標(biāo)尺刻度：0.1μm
分析項(xiàng)目：粒度分布、長(zhǎng)徑分布、圓形度分布等
軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
基本配置
PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)正置式偏振光光學(xué)顯微鏡
數(shù)字500萬級(jí)別以上的CCD攝像頭
全自動(dòng)0.1微米級(jí)別的載物臺(tái)
圖像處理與分析軟件
電腦和打印機(jī)
等部分組成；
將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；
專用數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；
R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；
顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析；
顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果。
常見問題
1.PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)的技術(shù)參數(shù)有哪些？
自動(dòng)分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%測(cè)試范圍: 1-500μm系統(tǒng)放大倍數(shù)：40～l000X倍
zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：300萬像素
標(biāo)尺刻度：0.1μm
分析項(xiàng)目：粒度分布、長(zhǎng)徑分布、圓形度分布等
軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 2000、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
相關(guān)技術(shù)服務(wù)資料
相關(guān)產(chǎn)品
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